铝及铝合金阳极氧化膜厚度的测量，GB/T8014. 1-2005

铝及铝合金阳极氧化膜厚度的测量方法有多种，以下是一些常用的方法：

1. 涡流测量法：这是一种非破坏性测量技术，适用于膜厚大于5μm的阳极氧化膜。这种方法利用涡流效应来测量阳极氧化膜的厚度。

2. 直接显微镜测量：通过显微镜观察并测量阳极氧化膜的厚度。这种方法适用于膜厚较大的情况。

3. 干涉显微镜测量：利用光的干涉原理来测量阳极氧化膜的厚度。这种方法适用于膜厚大于10μm的一般工业用阳极氧化膜，或表面平滑、膜厚大于5μm的阳极氧化膜。

4. 分光束显微镜测量：与干涉显微镜测量类似，但使用了分光束技术来提高测量的准确性。

5. 击穿电压测量：基于阳极氧化膜在电场作用下击穿时的电压值来推算其厚度。这种方法原理简单，但因实际操作比较复杂而使用不多。

对于保护和装饰用的多孔型阳极氧化膜，Zui常用的测量方法有：

1. 显微截面测量法：直接观察并测量阳极氧化膜的横截面厚度。这种方法可以用于膜厚大于5μm的仲裁检验。

2. 质量损失（失重）法：通过测量阳极氧化膜在特定条件下的质量损失来推算其厚度。这种方法适用于膜厚小于5μm的仲裁检验。

3. 涡流测厚法：利用涡流效应来测量阳极氧化膜的厚度，既适用于企业生产线的在线测量，也适用于实验室研究开发。

需要注意的是，不同的测量方法适用于不同厚度和类型的阳极氧化膜，并且其准确性和可靠性也会受到多种因素的影响，如测量设备的精度、测量环境的稳定性等。在实际测量中，应根据具体情况选择合适的测量方法，并遵循相应的标准和规范进行操作。